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Capacitor Electrolítico de Aluminio de 1uF, 50V, 20% tipo SMD.

  • Capacitancia 1uF con tolerancia 20%
  • Voltaje nominal de 50V
  • Dimensiones compactas 4 x 5.8 mm
  • Diseño SMD para montaje superficial
  • Cumple estándares RoHS y AEC-Q200
  • Corriente de rizado nominal 8mA RMS
  • Modelo:493-9454-1-ND
  • Marca:SYSCOM
  • Código SAT:32121501
  • Garantía:3 años con SYSCOM

Especificaciones

Características Principales

  • Capacitancia: 1 µF
  • Tolerancia: ±20% (120 Hz, 20°C)
  • Voltaje nominal: 50 V
  • Dimensiones: 4 x 5.8 mm
  • Tipo: SMD (Montaje Superficial)
  • Cumple con RoHS (2011/65/EU, (EU)2015/863)

Especificaciones Técnicas

  • Temperatura de operación: -55°C a +105°C
  • Vida útil: 3000 a 5000 horas a +105°C
  • Impedancia Z(-25°C)/Z(+20°C): 4 (máx.)
  • Impedancia Z(-55°C)/Z(+20°C): 10 (máx.)
  • Factor de pérdida tan δ: 0.12 (máx.)
  • Corriente de fuga: ≤ 0.01 CV o 3 µA (lo que sea mayor)
Resistencia a Soldadura
  • Prueba: 30 segundos a 250°C
  • Cambio de capacitancia: ±10% máximo
  • Factor de pérdida: ≤ valor inicial especificado
  • Corriente de fuga: ≤ valor inicial especificado
Condiciones de Almacenamiento
  • 1000 horas a 105°C sin carga
  • Cambio de capacitancia: ±10% máximo
  • Factor de pérdida: ≤ 300% del valor inicial
  • Corriente de fuga: ≤ valor inicial especificado
Código de Identificación
  • Modelo: UUA1H010MCL1GS
  • Tensión nominal: 1H (50V)
  • Capacitancia: 010 (1.0 µF)
  • Tolerancia: M (±20%)
  • Código de tamaño: CL1 (4×5.8 mm)

Aplicaciones Típicas

  • Equipos electrónicos de alta densidad
  • Circuitos de alimentación
  • Fuentes de poder
  • Tarjetas de circuito impreso

Características de Rizado

  • Coeficiente de frecuencia: 1.50 (10kHz o más)
  • Corriente de rizado nominal: 8 mA rms
  • Temperatura de prueba: 105°C, 120Hz
Dimensiones
  • Diámetro: 4 mm
  • Longitud: 5.8 mm
  • Altura de ventila: 0.5 a 0.8 mm
  • Espaciado recomendado: 2.0 mm
Normas y Certificaciones
  • RoHS (2011/65/EU, (EU)2015/863)
  • AEC-Q200 (automotriz) - Consultar detalles
  • JIS C 5101-4 (pruebas de envejecimiento)